本文關鍵字:
本文簡要描述MCT工藝和貼裝精度的基本原理。然后介紹一種專門的校正方法,該方法允許貼裝精度的測試,以幫助滿足今天迫切的市場需求。
當今產品的普遍趨勢是小型化,同時又要增加性能和降低成本,這不可避免地導致在SMT所有領域中的更大的工藝開發。例如,高性能貼裝系統的用戶希望供應商有新的發展,從而可以大大增加貼裝產量,同時又提高貼裝精度。就貼裝的最重要方面:貼裝精度而言,用戶都希望所規定的設備參數值可以維持幾年不變。這些規定的值通常作為機器能力測試(MCT, machine capability test)的一部分,在供應商自己的地方為貼裝機器的客戶進行檢驗。
MCT工藝
貼裝系統的標準偏差和標稱值的平均值偏差,是貼裝精度的兩個核心變量,作為MCT的一部分進行測量。MCT是以下列步驟進行的:首先,將某個最少數量的玻璃元件貼裝在一塊玻璃板上的粘性薄膜上。然后使用一部高精度測量機器來測定所有貼裝的玻璃元件在X,Y和θ上的貼裝偏差。測量機器然后計算在有關位置軸X,Y和θ上的貼裝偏移(標稱值的平均值偏差)。
在圖一中以圖形代表的MCT結果得到如下的核心貼裝精度值:
標準偏差 = 8 µm
貼裝偏移 = 6 µm
圖一、MCT結果的圖形表示
通常,我們可以預計貼裝偏差符合正態高斯分布,允許變換到更寬的統計基數,如3或4σ。對于經常使用的統計基數,上述指定的貼裝系統具有32µm的精度。
將導出的精度與所要求的公差極限相比較,則可評估機器對于一個特殊要求的可適用性。機器能力指數(cmk, machine capability index)已經被證明是最適合這一點的。它通常用來評估機器的工藝能力(process capability)。
一旦上限(USL, upper specification limit)與下限(LSL, lower specification limit)已經定義,cmk可用來計算貼裝精度。
由于極限值一般是對稱的,我們可以用簡化的規格極限SL=USL=-LSL進行計算,如圖一所示。
cmk= | 規格極限-貼裝偏移 3x標準偏差 | = | 3SL-µ 3σ |